中心簡介 | 儀器介紹 | 收費標準 | 申請表單| 公告事項 | 相關連結 |
 
ico你現在的位置是在東海大學 / 共同貴重儀器中心 / 儀器介紹. HR-TEM高解析穿透式電子顯微鏡

中文名稱

高解析穿透式電子顯微鏡

英文名稱

High Resolution Transmission Electron Microscope

申請表單
word申請表單下載

儀器廠牌型號

JEOL JEM-2100

購置年限

2006/10/1

功 能

JEM-2100為日本電子公司(JEOL Co. Ltd)所開發之穿透式電子顯微鏡,配備高性能LaB6電子源,提供高亮度高空間解析度的電子束,適合多樣化的試片分析。JEM-2100的標準功能包括穿透影像觀察、電子繞射做晶體結構分析 (可做SAD及NBD)EDS成分分析。
●TEM mode:影像觀察,解析度可達0.19nm(UHR),倍率可達百萬倍以上,並可利用OBJ aperture 觀察明場像(Bright field image,一般觀察)或暗場像(dark fieldmage,某特定繞射晶面或缺陷觀察)。
●SAD mode:選區繞射利用選區 aperture 做 um 級的繞射,鑑定晶體結構。
●NBD mode:微區繞射 (nano beam diffraction) 利用微細電子束作 nm 級的繞射, 鑑定微區晶體結構。
●EDS mode:將Electron beam 縮成點狀作微區成分分析。

重要規格

1. 電子源:LaB6
2. 操作電壓:80、100、120、160、200KV
3. 解像力:Point:0.19nm
4. 解像力:Lattice:0.14nm
5. 放大倍率2000倍~150萬倍
6. 雙傾斜基座:X軸±25°;Y軸±25°
7. 配件: Oxford Energy Diapersive X-ray Analyzer

高解析穿透式

聯絡人

儀器負責人:蕭錫鍊教授   (TEL:04-23590121 ext. 32141 ) Hlhsiao@thu.edu.tw
共同貴重儀器中心連絡人: 李春美 (TEL:04-23590121 ext. 30045 ) limei@thu.edu.tw

注意事項

本機台對於檢驗樣品的限制如下:

  1. 待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度,以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中,發生剝落、碎裂的狀況。
  2. 低熔點的材料如:銦,錫等,會產生相變及蒸鍍效應,請勿使用。
  3. 在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品,如有機物、高分子等,會影響真空、造成污染,請勿使用。
  4. 具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料,請勿使用。
  5. 未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品,請勿使用。

收費標準

** 不負責樣品製備及底片沖洗 **
** 每單元以三小時計,底片可自備 **
** CCD拍照不含繞射功能 **


校內單位

校外學術單位

營利事業單位

使用費

1000元/單元

2500元/單元

4000元/單元

EDS操作費

200元/點

200元/點

200元/點

底片

100元/張

100元/張

100元/張

CCD拍照

200元/hr

500元/hr

600元/hr

收費標準概算

為增進本校貴重儀器發展及有效整合校內貴重儀器使用效益,促進系際、院際、校際及產學之密切合作,加強維護與管理,規劃貴重儀器添置相關計劃,以儀器研發、規劃及推廣服務,並有效率使用為重點。並配合本校推動科研重點特色之建立,提供各界所需之研究支援,以期加速提升科技水準。
校內使用不計攤舊成本,校外學術及營利單位使用加計攤舊成本。若有特殊狀況得簽請校長同意之。
設備維護包括:
a. 冰水、冷氣空調系統定期維修保養等每年約需一萬元。
b. 真空系統定期維修保養、腔內孔徑定期清理更換、重新調校等每年約需十萬元。
c. 電子槍更換,正常使用下電子槍壽命約半年,每支電子槍更換及調校約十萬元。
d. 儀器操作人事費用每小時約為一百元。
年維護費約為二十一萬元(攤舊不計)。


二. 使用管理時間分配
下表中註明儀器擬開放使用、維護等之時段。

時 間

上午 9:00至12:00

下午 13:30至17:00

晚上 17:00至21:00

週一

維 護

物理系優先登記

物理系優先登記

週二

校內優先登記

校外優先登記

物理系優先登記

週三

物理系優先登記

校內優先登記

物理系優先登記

週四

校 內 優先登記

物理系優先登記

物理系優先登記

週五

物理系優先登記

校內優先登記

物理系優先登記